Duc N. Nguyen
Chủ đề nghiên cứu: Phân tích hỏng hóc vi mạch và bán dẫnHiệu ứng bức xạ trong điện tửPhát triển và hiệu năng của detector hạt
Trường Đại học Khoa học và Công nghệ Hà Nội
Nguồn: OpenAlex52 công bố2.175 trích dẫn







6.90216%

24.70358%

4 / 42.309 người
7.03517%

3.9109%
Chủ đề nghiên cứu: Phân tích hỏng hóc vi mạch và bán dẫnHiệu ứng bức xạ trong điện tửPhát triển và hiệu năng của detector hạt
Trường Đại học Khoa học và Công nghệ Hà Nội
Nguồn: OpenAlex52 công bố2.175 trích dẫn
Chủ đề nghiên cứu: Phân tích hỏng hóc vi mạch và bán dẫnTối ưu hóa độ tin cậy và bảo trìNghiên cứu độ tin cậy và phân tích phần mềm
Le Quy Don Technical University
Nguồn: OpenAlex16 công bố40 trích dẫn
Chủ đề nghiên cứu: Phân tích hỏng hóc vi mạch và bán dẫnCông nghệ MEMS và NEMS tiên tiếnCông nghệ đóng gói điện tử và hàn
VNU University of Engineering and Technology
Nguồn: OpenAlex14 công bố70 trích dẫn
Chủ đề nghiên cứu: Phân tích hỏng hóc vi mạch và bán dẫnVật liệu bán dẫn và bề mặt tiếp giápTiến bộ trong linh kiện bán dẫn và thiết kế mạch
RMIT Vietnam
Nguồn: OpenAlex31 công bố66 trích dẫn